一、產(chan)品概述：

該設備(bei)適用于學(xue)校，工(gong)廠，軍(jun)工(gong)，科研單位，實驗(yan)室(shi)、高(gao)校等(deng)單位，來檢(jian)測(ce)各種電子元氣(qi)件在高(gao)溫(wen)，低溫(wen)或高(gao)低溫(wen)交替(ti)環(huan)境(jing)下的(de)各項性(xing)能指標、貯存和(he)使用的(de)適應性(xing)。

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二、技術參(can)數(shu)：

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導體

三、箱體結構：

l  箱(xiang)體(ti)造型(xing)美(mei)觀大(da)方，采用(yong)數控(kong)機床加(jia)工(gong)成型(xing)，并(bing)采用(yong)無反(fan)作(zuo)用(yong)把手，操作(zuo)簡便(bian)。

l  箱體內膽采用高級不銹鋼（SUS304）鏡面(mian)板，箱體采用冷(leng)軋鋼板靜電噴塑，增加了外觀質感和潔凈(jing)度。

l  大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。箱體左側配有測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。(孔徑或孔數須增加定貨時說明)。機器底部采用高品質可固定式PU活動輪。

四、控制系統：

l  7寸可程式(shi)彩色觸摸控制器。

l  采用大屏觸摸屏模式熒幕畫面、熒幕操作(zuo)簡(jian)單、程式編輯容易。

l  控器操作界面設中英文可(ke)供選擇、即(ji)使運轉曲線圖可(ke)由屏幕顯示。

l  具有100組程式1000段999循環步驟的容量、每段時間設定值為99小時59分鐘。

l  資料及試驗(yan)條件輸入(ru)后、控制器具(ju)有熒屏鎖定功能、避(bi)免人為觸摸而停機。

l  具有PID自動演算功(gong)能、可將溫度變化條件立即修正(zheng)、使溫度控制(zhi)更為精(jing)確穩定。

l  具有RS-232或RS-485通(tong)訊(xun)界面、可在電(dian)腦上設計程(cheng)式、監控試驗過程(cheng)并(bing)執行開關機(ji)功能。

l  可連接打印機或485通訊(xun)接口、用電腦(nao)顯示、并打印溫度(du)和時間曲線、為試驗過程數(shu)據儲存于回放提供有力保(bao)證。

五、制冷系統：

l  制冷機(ji)采用法國原裝(zhuang)“泰康(kang)"全封(feng)閉壓縮機(ji)。

l  冷凍(dong)系統(tong)采用單機低溫回路系統(tong)設(she)計。

l  采用多翼式(shi)送(song)風機強力送(song)風循環，避免任何死角(jiao)，可使測(ce)試區域內溫濕度分布均(jun)勻。

l  風(feng)路循環出風(feng)回(hui)風(feng)設(she)計(ji)，風(feng)壓、風(feng)速(su)均符(fu)合測試標準，并可(ke)使開門瞬間(jian)溫度回(hui)穩時間(jian)快。

l  升溫(wen)(wen)、降(jiang)溫(wen)(wen)獨(du)立可(ke)提高(gao)效率，降(jiang)低測試成本，增(zeng)長壽(shou)命，減低故障率。

六、符合標準：

l  GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗 A：低溫試驗方法。

l  GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗 B：高溫試驗方法。

l  GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

l  GB/T 2423.2-2008 試驗 B《高溫試驗方法》

l  GB10586-89 低溫試驗箱技術條件

l  GB/T10592-89 高低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)技術條件

l  GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

l  GB11158 高溫試驗箱技術條件

l  GB2423.1-89 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗 A：低溫試驗方法

l  GB2423.2-89 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗 A：高溫試驗方法

l  IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

l  IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導體